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光學輪廓儀PGI Dimension高精度多功能 PGI Dimension把高精度、多功能測量與全自動控制*地結合在一起.光學三維的PGI提供了必要的靈活性，擁有測量近乎垂直角度的能力 ，幾乎不受任何非球面設計的限制，從而可以測量跨越不業種類繁多的光學元件。

泰勒霍普森高精度粗糙度儀高性價比款 SURTRONIC DUO 是英國泰勒公司 新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測 Ra ， Rz 兩種參數。 DUO 具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。 SURTRONIC DUO新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設計可滿足不同的技術與工作環境要求。

Form Talysurf Intra-英國泰勒霍普森經銷商 用于同時測量尺寸、形狀和表面粗糙度，曲率、傾角、粗糙度和波紋度等。Form Talysurf Intra只需一遍，即可檢測和評估所有元素。該儀器擁有堅固耐用的外殼。

泰勒霍普森小型便攜式SURTRONIC 3+粗糙度儀 SURTRONIC3+僅手掌大小，可攜帶到任何需要測量表面粗糙度的地方。設計*的探頭支架可輕易使探頭和被測工件表面穩定接觸。

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Surtronic Duo大量程粗糙度儀 Surtronic Duo便攜式表面粗糙度測量儀是一種上等便攜式表面粗糙度測量儀，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數。這些參數（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。