泰勒霍普森白光干涉儀CCI MP

• 更新時間：2020-09-23
• 瀏覽次數：1981

泰勒霍普森白光干涉儀CCI MP
無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結果的準確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對非常粗糙到非常光滑的所有表面進行細致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產運營或研究項目時刻與研發人員和科學家的專業技術同步發展

訂購留言

分享到：

 泰勒霍普森白光干涉儀CCI MP

1.  大量程、高分辨率、高準確性和高可靠性–取得成功的四大要素

        無論哪種零件、無論多快的分析速度，CCI MP均可保證三維面形測量結果的準確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭，可對非常粗糙到非常光滑的所有表面進行細致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產運營或研究項目時刻與研發人員和科學家的專業技術同步發展，CCI       MP能夠滿足包括太陽能、光學和醫療器械等領域提出的苛刻的測量要求。高級數據拼接功能拓展了儀器的可測量范圍。

2.  使用的簡便性可減少操作員的培訓成本

        即便不常使用，也無需對操作員重新進行培訓和指導。CCI    MP的設計便于科學家、學生、開發人員或生產檢查人員使用。CCI MP的創新功能如自動量程和自動條紋尋找等，可以簡化樣品的調整過程。為用戶節省時間、減少錯誤并快速得出所需結果。

3.  完整的平臺簡化ISO-17025的集成

         不需要增加程序的復雜性就可使用戶的分析能力得到很大提高。也不需要測量模式間進行復雜的切換，以及測量過程中校準鏡頭，就可以測量多種多樣零件和表面。標準化的模式、程序和報告功能，使CCI MP可輕松集成到用戶的質量管理系統。

4.  無限的應用可能性

        許多用戶依靠CCI MP解決其他儀器*無法處理的測量問題。憑借出色的量程、非常高的分辨率以及操作簡便的優勢,成為在眾多應用場合中研發和質量保證的理想工具。

無論對分析速度的要求有多高，我們創新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量非常光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業知識保持與時俱進，能滿足光學領域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI特別的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學工業而設計的出色計量包裝 。

?    2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
?    全量程0.1埃的分辨率
?    輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
?    RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
?    多語言版本的64位控制和分析軟件

篤摯儀器（上海）有限公司專業從事粗糙度儀、測厚儀，探傷儀，硬度計、色差儀、測色計等計量室檢測設備的推廣銷售。由于我公司代理的產品質量穩定，性價格比高，所以代理商銷售網絡遍及華東、華南、西南、及華北地區，更進一步為客戶提供完善的售后服務奠定堅實的基礎。為廣大客戶一步一步做好“售前技術咨詢服務”、“售中技術培訓”、“售后技術服務”。誠信促進發展，實力鑄就品牌，我們正加倍努力爭取用更優質的產品，優質的服務于廣大客戶朋友們共同開創輝煌未來。真誠與各位新老客戶長期合作，歡迎留言或電詢！