Jenoptik?W10小型粗糙度儀

• 更新時間：2019-04-03
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Jenoptik?W10小型粗糙度儀
Hommel-Etamic W10 適可用于任何位置測量的便攜式粗糙度儀，用于橫向探測、架空位置和垂直位置的移動式粗糙度測量，借助移動式 HOMMEL-ETAMIC W10 測量儀

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Jenoptik W10小型粗糙度儀

HOMMEL-ETAMIC W10 技術亮點： 

1、使用無線驅動箱 LV17 實現移動且無需電網電源

2、需要時可固定使用

3、測量所有標準的粗糙度參數

4、主機內具有驅動箱充電及放置槽

5、通過大型彩色觸摸屏實現交互式操作

6、通過內置粗糙度標準件對測量儀進行檢測

7、粗糙度測頭更換簡單

8、通過 Bluetooth 接口進行無線數據傳輸

9、用于快速打印測量結果的內置打印機

10、可保存7個測量程序的存儲

Hommel-Etamic W10 適可用于任何位置測量的便攜式粗糙度儀，用于橫向探測、架空位置和垂直位置的移動式粗糙度測量，借助移動式 HOMMEL-ETAMIC W10 測量儀，您可以用無線方式測量工件，清晰的測量結果始終顯示在寬大的觸摸屏上。Hommel-Etamic W10 測量儀非常適合用于進行移動式粗糙度測量，讓您可以在生產過程本身中監測工件的表面質量。這款實用的測量系統具有廣泛的功能。它在橫向探測期間以及架空位置和垂直位置中提供可靠且精密的測量。集成的粗糙度標準支持快速測試測量儀，確保始終獲得非常高的精密度。

測量特性：

※橫向探測：測頭可回轉90%,用于溝紋和凹槽內或軸肩之間的測量

※小型軸類件的移動式測量：測量直徑大于10 mm的軸類件時采用支撐棱

※仰測：對小型工件進行仰測，采用進給單元底部精磨軸進行工件定位

※通過支撐腳調節高度：通過可伸縮的支撐腳調整進給單元的高度

※垂直測量：進給單元背面的3點支撐，保證測量垂直工件面時定位可靠

※高度測量架HS300 (選項)：高度可調范圍300 mm旋轉裝置可調范圍土180°

粗糙度測試儀用于快速準確地確定材料的表面紋理或表面粗糙度。 粗糙度測試儀顯示測量的粗糙度深度（Rz）以及平均粗糙度值（Ra），單位為微米或微米（μm）。 測量表面的粗糙度包括應用粗糙度過濾器。 不同的標準和表面紋理或表面光潔度規格推薦使用不同的粗糙度過濾器。 例如，ISO標準中經常推薦使用高斯濾波器。

德國Hommel Etamic W10粗糙度儀是用于測量粗糙度的便攜式儀器。 粗糙度測試儀根據標準測量所有常見的粗糙度變量，如DIN EN ISO或ISO MOTIF。測量裝置Jenoptik Hommel-Etamic W10非常適用于移動粗糙度測量。 這允許您直接在生產中監控工件的表面質量。 方便的測量系統具有廣泛的功能。 它在交叉掃描和開銷以及垂直可靠和地操作。 集成粗糙單元用于快速檢查設備，確保測量精度始終如一。