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泰勒非接觸輪廓儀LuphoScan 260/420 HD

  • 更新時間:2020-02-10
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泰勒非接觸輪廓儀LuphoScan 260/420 HD
LuphoScan 260/420 HD測量臺開創了光學表面高精密計量的新領域。新一代的測量系統能夠測量物件角度大至90° 度,測量精度高于±50 nm (3σ) 。測量結果有著很高的重復性且低噪音。全新的 LuphoScan 260/420 HD是對高精度有著很高要求應用的理想選擇

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品牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森價格區間面議
產品種類非接觸式輪廓儀/粗糙度儀產地類別進口
應用領域電子,交通,冶金,航天,汽車

泰勒非接觸輪廓儀LuphoScan 260/420 HD

篤摯儀器對產品,不斷精益求精,提供符合客戶要求的物理表面檢測設備,客戶產業遍及石油、電力、鋼鐵、軌道交通、電子、半導體、航空、航天、軍工、實驗室、汽車…等科技產業,我們以客戶的需求作為思考的出發點。經歷多年來的努力, 公司人員披荊斬棘,以不懈的努力一路走來,人員,技術,服務日趨完善。

LuphoScan 260/420 HD測量臺開創了光學表面高精密計量的新領域。新一代的測量系統能夠測量物件角度大至90° 度,測量精度高于±50 nm (3σ) 。測量結果有著很高的重復性且低噪音。全新的 LuphoScan 260/420 HD是對高精度有著很高要求應用的理想選擇,是生產過程控制的*基本要求。可測量坡度很高的表面、具有不同間距方向的表面、很小的表面例如手機鏡頭模具。LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術(MWLI®)的干涉式掃描測量系統。 它專為旋轉對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設計, 例如非球面光學透鏡。該系統能為高質量的光學表面3D形狀測量提供**效益。

        LuphoScan量測平臺是一款利用多波長干涉技術(MWLI®)的干涉式掃描量測系統。它專為旋轉對稱表面的超精密非接觸式3D形狀量測而設計,例如非球面光學透鏡。LuphoScan平臺能夠輕松進行非球面、球面、平面和自由曲面的量測。該儀器的主要特性包括高速量測、特殊表面的高靈活度量測 (例如;反曲點的輪廓或平坦的尖點), 大物體直徑可達420 mm, 因為采用多波長干涉技術(MWLI®)傳感器技術, 因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。

主要特點
?    無與*比的測量能力
?    HD = 高分辨率
?    快速的、值得信賴的非球面表面非接觸式三維形狀測量
?    高精度 - 物件坡度高至90° 度
?    是測量大的、陡峭的和很小的非球面鏡頭(如手機鏡頭模具)的理想選擇
?    測量結果*高的重復性
?    Power和PV測定參數的*佳穩定性
?    系統噪音很低

?    堅固耐用,不受環境變化的影響

LuphoScan系統能提供高品質光學表面3D形狀量測的*佳效益:
?    對任何旋轉對稱的表面深入分析 - 非球面、球面、平面和自由曲面
?    超高的、可重復精度 - ≤ ± 50 nm
?    可量測任何材料 - 透明、鏡面、不透明、拋光、研磨
?    偏離的大球面 - 不受偏離限制。例如,能夠量測盤式或鷗翼表面,以及彎曲點的輪廓
?    大斜坡量測 - 可達90° (例:半球量測)
?    完整透鏡特征* - 透鏡厚度、楔形誤差、偏心誤差、透鏡安裝位置
?    *附加功能

主要應用領域

        LuphoScan測量系統用于測量可旋轉的對稱表面的3D拓撲結構, 例如凹面球面透鏡和凸面球面透鏡。 測量工作臺的設計能夠確保測量大多數的透鏡, 而不受任何球形偏離、罕見頂端形狀(平頭)、傾斜或者發射點圖的限制。除了標準的測量應用外, 還可以使用LuphoScan測量平臺的特殊擴展工具LuphoSwap不同擴展功能, 來完成多種光學要素特征的測量。該工具能夠輔助測量透鏡厚度, 以及楔形與偏心誤差。 除此之外, 額外的附加軟件類型能夠直接測量間斷的透鏡,如分段表面包括矩形部件、環形透鏡、有衍射階梯的表面和錐透鏡。

 

摯儀器(上海)有限公司主營檢測儀器設備有:

    ==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測厚儀、便攜式涂鍍層測厚儀;

    ==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學三維形貌測量儀;

    ==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測量儀、千分尺、卡尺;

    ==>>德國EPK(Elektrophysik)手持式涂覆層測厚儀;

    ==>>德國艾達米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀;

    ==>>美國API  XD系列激光干涉儀;

    ==>>美國GE無損檢測超聲波探傷儀、超聲波測厚儀;

    ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測高儀、千分尺、卡尺;

    ==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標測量機測頭測針、機床測頭、位置編碼器、光柵、激光尺;

    ==>>德國Fraunhofer-IZFP無損檢測技術研究所 淬火層厚度無損測量系統;

    ==>>美國FLIR熱成像系統、夜視系統、紅外熱像儀、紅外探測器;

    ==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀;

    ==>>TRIMOS測長儀、測高儀、萬能測長機;

    ==>>杭州思看科技三維掃描儀.

 

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